Configuração de autoteste STMicroelectronics TN1317 para manual do usuário do dispositivo SPC58xNx

Aprenda a configurar a unidade de controle de autoteste para dispositivos SPC58xNx com STMicroelectronics TN1317. Este guia abrange o autoteste integrado de memória e lógica (MBIST e LBIST) para detectar falhas latentes. Descubra como executar o autoteste nos modos online e offline, bem como a configuração MBIST recomendada. Para mais detalhes, consulte o capítulo 7 do manual de referência RM0421 SPC58xNx.